hast老化試驗(yàn)箱非標(biāo)定制

產(chǎn)品特點(diǎn)：可定制BIAS偏壓端子組數(shù)，提供產(chǎn)品通電測(cè)試通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級(jí)的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗(yàn)設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸型號(hào)：hast系列        生產(chǎn)方式：非標(biāo)定制品牌：RIUKAI           產(chǎn)地：廣東·東莞非標(biāo)定制產(chǎn)品詳情請(qǐng)咨詢客服

hast設(shè)備

產(chǎn)品特點(diǎn)：可定制BIAS偏壓端子組數(shù)，提供產(chǎn)品通電測(cè)試通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級(jí)的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗(yàn)設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸可提供130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測(cè)試條件

hast試驗(yàn)箱

產(chǎn)品特點(diǎn)：用戶可以查看他們希望查看任何數(shù)據(jù)通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級(jí)的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗(yàn)設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸hast測(cè)試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測(cè)試時(shí)間。

hast非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

本設(shè)備廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等

hast非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱

內(nèi)箱容積（圓桶）：￠300×D450、￠400×D550溫度范圍：+110～+132℃、+110℃～+147℃壓力范圍：壓力表+0.2～2.0kg/cm2、壓力表+0.2～3.0kg/cm2、壓力表+0.3～3.5kg/cm2濕度范圍：65%～100%R.H(可調(diào))適用范圍：本設(shè)備廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。

hast高壓加速老化試驗(yàn)箱

可按需定制溫度范圍：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可選壓力范圍：A(壓力表+0.2～2.0kg/cm)；B(壓力表+0.2～3.0kg/cm)；C(壓力表+0.2～3.5kg/cm)濕度范圍：65%～100%R.H(可調(diào))濕度波動(dòng)度：非飽和控制：±2.5%R.H、濕潤(rùn)飽和控制：100%R.Hhast高壓加速老化試驗(yàn)箱是在非飽和濕度（65%～100%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測(cè)產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。

JESD22-A118B無偏壓hast加速水汽抵抗性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

無偏hast方法是為了評(píng)估非密封封裝固態(tài)器件在潮濕環(huán)境中的可靠性的試驗(yàn)方法。這是一種高度加速試驗(yàn)，在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護(hù)材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護(hù)材料和金屬導(dǎo)體之間的界面滲透。本試驗(yàn)中不采用偏壓，以確?？赡鼙黄珘貉谏w的失效機(jī)制可以被揭示（如電偶腐蝕)。此測(cè)試用于識(shí)別封裝內(nèi)部的故障機(jī)制，具有破壞性。

芯片（IC）可靠性測(cè)試好幫手——瑞凱儀器hast試驗(yàn)箱系列

芯片是電子信息產(chǎn)品重要的元器件，是高端制造業(yè)的是核心基石！幾乎每種電子設(shè)備，電腦、手機(jī)、家電、汽車、高鐵、電網(wǎng)、醫(yī)療儀器、機(jī)器人、工業(yè)控制等都使用芯片。瑞凱hast試驗(yàn)箱主要應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體器件、金屬材料領(lǐng)域，通過爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。

hast高加速應(yīng)力測(cè)試

原理：試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環(huán)境下，加速濕氣穿過外部的保護(hù)層，或沿著金屬和外保護(hù)層的分界面穿透，造成試樣的失效。設(shè)備物料：1.控制的環(huán)境：需要在上升至特定的測(cè)試環(huán)境或從特定的環(huán)境下降時(shí)，保證壓力、溫度和相對(duì)濕度的hast試驗(yàn)箱；2.溫度曲線記錄：需要記錄每個(gè)測(cè)試循環(huán)的溫度曲線，以保證能核實(shí)壓力的有效性；3.試樣必須位于溫度梯度小處，離內(nèi)壁至少3cm，不能接觸到熱源的直接輻射加熱；

瑞凱儀器：聚焦“半導(dǎo)體器件hast試驗(yàn)箱”主業(yè)，發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢(shì)

瑞凱儀器掌握hast試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱的核心技術(shù)，將繼續(xù)緊跟市場(chǎng)發(fā)展步伐，加強(qiáng)對(duì)自動(dòng)化、智能化裝備的研發(fā)，著力提升核心競(jìng)爭(zhēng)力，助推企業(yè)做大做強(qiáng)。