熱門關(guān)鍵詞: 高低溫試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 無風(fēng)烤箱 鹽霧試驗(yàn)箱
本設(shè)備廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
GB-T 2423.40-1997 、IEC 60068-2-66-1994 、JESD22-A100 、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等
HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)是在非飽和濕度(65%~100%RH可調(diào))、溫度、壓力等條件下,檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備,采用加速應(yīng)力進(jìn)行試件的壽命試驗(yàn),從而縮短了試驗(yàn)時(shí)間,提高了試驗(yàn)效率,降低了試驗(yàn)成本,其研究使高可靠長壽命產(chǎn)品的可靠性評定成為可能。本設(shè)備廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。
內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水,符合國家安全容器規(guī)范;
三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Wo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺(tái)停機(jī)時(shí)自動(dòng)排除飽和蒸氣壓力、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等
壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測,確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度;
濕度自由選擇飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)自由設(shè)定;
支持電腦連接,
利用USB數(shù)據(jù)、
曲線導(dǎo)出保存
模式新升級:
出色的溫濕度精密控制邏輯,防止待測品潮濕與結(jié)露的模式選擇。
壓力數(shù)據(jù)真實(shí)呈現(xiàn):
壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測,確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度。
全方位安全保護(hù)系統(tǒng):
三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Wo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺(tái)停機(jī)時(shí)自動(dòng)排除飽和蒸氣壓力、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等...,完善的保護(hù)裝置,保障實(shí)驗(yàn)室與操作人員安全。
完善的擴(kuò)充選擇:
可選購多個(gè)BIAS電壓端子:符合JESD22-A110之實(shí)驗(yàn)規(guī)范要求,模擬待測品在高溫、高濕環(huán)境下,加載工作電壓,檢測內(nèi)部封裝模塊材料接合與保護(hù)層的滲透,并且觀察是否造成遷移。
GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗(yàn) 第2-66部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度,偏置電壓,以及工作壽命(IC壽命試驗(yàn))
JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
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