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關(guān)于高低溫試驗箱溫度均勻性的相關(guān)問題研究(上)

作者: salmon范 編輯: 瑞凱儀器 來源: litaoweb.cn 發(fā)布日期: 2019.08.02

    高低溫試驗箱(室)工作空間的試驗溫度是否均勻是一個非常重要的問題,因為如果溫度不均勻超過了允許偏差,則受試樣品的試驗條件達不到一致,有的樣品或樣品某一部分,試驗溫度偏高,有的偏低,從而產(chǎn)生過試驗或欠試驗的問題,使試驗的再現(xiàn)性差,試驗得出的數(shù)據(jù)不可靠,終使試驗歸于失敗。本文擬對氣候環(huán)境高低溫試驗箱(室)的溫度均勻性有關(guān)問題提出一些看法。

關(guān)于氣候環(huán)境試驗箱溫度均勻性的相關(guān)問題

    一、各種標(biāo)準(zhǔn)表述高低溫試驗箱(室)溫度均勻性的指標(biāo)及其計算方法
    1、均勻度:以溫度均勻度指標(biāo)來表示高低溫試驗箱的溫度均勻性,例如有以下一些標(biāo)準(zhǔn):
    1)英國標(biāo)準(zhǔn)BS389-1965《實驗室濕熱箱技術(shù)條件》:規(guī)定為在次達到設(shè)定溫度兩小后,用溫差熱電偶連續(xù)測試兩小時,分別計算每一測試點與點的溫差平均值,其中者即為溫度均勻度,其大小不得超過規(guī)定指標(biāo)±0.5℃。
    2)日本試驗機工業(yè)會,恒溫恒濕箱的性能試驗方法:測溫元件置于上、下四角及點,上下四角測溫元件距箱壁距離為各自邊長的1/6且不小于50㎜處。當(dāng)溫度達到恒定狀態(tài)后,對各測試點每隔一分鐘測試一次,共測十次以上,計算每一測試點與點的溫差的平均值,其中者即為溫度均勻度。
    3)美國ASTMD2436-68《電氣絕緣用強制對流實驗室烘箱技術(shù)條件》:用9只熱電偶,只在距工作室?guī)缀?5 m內(nèi),其余8只在上下四角且距箱壁50 m處。當(dāng)達到設(shè)定溫度并穩(wěn)定16小時后,盡快記錄9支熱電偶的溫度數(shù)據(jù),然后,每隔5分鐘記錄一次,共記錄得到45個數(shù)據(jù)。計算45個數(shù)據(jù)的平均值作為箱溫。從45個數(shù)據(jù)中選出兩個數(shù)和兩個小數(shù)分別各自減去平均數(shù),然后從四個差值中選出兩個差值并求其平均值,此值就表述箱內(nèi)溫度均勻度。
    4)中國JB/T5520- -91《干燥箱技術(shù)條件》:對各測試點連續(xù)測試四次,時間≤20min,計算各測試點四次測得的平均值與點四次測試的平均值之差,其中值與工作溫度之比即干燥箱的溫度均勻度,以百分比表示。
    5)中國GB10586-89《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。各測試點除點外,其余各點距箱壁為各自邊長的1/10。當(dāng)溫度達到規(guī)定值并穩(wěn)定2h后,每隔2min測試各測試點溫度一次, 在30min內(nèi)共測15次,再隔30min再測一次,以后每隔1h測-次。利用30min內(nèi)15次的測試數(shù)據(jù),分別算出每次數(shù)據(jù)中與溫度之差再求其平均值,即為溫度均勻度。
    2、溫度偏差:以溫度偏差指標(biāo)來要求 高低溫試驗箱工作空間的溫度均勻性,如以下一些標(biāo)準(zhǔn):
    1)在美軍標(biāo)MIL-STD-810D, 4.4.1 試驗條件允差中規(guī)定“試樣完全被空氣包圍(必要的支承點除外),試驗區(qū)測區(qū)測理系統(tǒng)的溫度和包圍試件各處的溫度梯度應(yīng)分別在試驗溫度的±2℃以內(nèi)和不超過每米1℃或總的值為2.2℃ (試件不工作)”
此標(biāo)準(zhǔn)中用±2'℃的溫度偏差和1℃/M的溫度梯度來要求箱內(nèi)工作空間的溫度均勻性。
    2)在美軍標(biāo)MIL-STD-202F,2.2.1 及MIL-STD-883℃, 4.5.8 中要求工作區(qū)空間內(nèi)任-一點的溫度,在給定時間內(nèi)偏離基準(zhǔn)點不超過±3℃ ( 即為容許偏差)。
    3)在IE℃68號出版物及GB2423中,對高低溫試驗箱工作空間的溫度均勻性要求以“容差”即對標(biāo)稱溫度的容許偏差表述。對容差大小,在高溫箱中規(guī)定為±2℃,在低溫箱中規(guī)定為±3℃。4)在IE℃68-2-3,2.1的注中“溫度±2℃的容差是由于考慮到有測量的誤差,緩慢的溫度變化和工作空間的溫度波動度等”。
    在IE℃216號出版物第四篇老化烘箱中,定義“溫度偏差”是“由于溫度波動度和溫度梯度組合而成的誤差”。
    5)GB/T5170·21996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》,規(guī)定“溫度偏差”為高低溫試驗箱溫度性能指標(biāo)的檢定項目。 溫度偏差的檢定方法是:當(dāng)工作空間指示點溫度第-次達到標(biāo)稱溫度后穩(wěn)定2h。測量各測試點溫度,每2min記錄一次各點的溫度,在30min內(nèi)共測量15次。工作空間各測試點的實測溫度和實測溫度與標(biāo)稱溫度的上、下偏差定為設(shè)備在該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差。
    3、溫度偏差和溫度均勻度兩種表述方法的比較
    1)用溫度均勻度指標(biāo)雖可表示箱內(nèi)工作空間溫度均勻性的好或差,但由于在計算中都采用了多次平均值的方法,從而把各點的溫度波動度因素基本上去掉了。然而對于試驗設(shè)備的溫度性能指標(biāo)只標(biāo)出溫度均勻度是不夠的,還必須有溫度波動度指標(biāo),即各點溫度隨時間而變化的大小,才能全面描述箱內(nèi)溫度場的變化尤其當(dāng)溫度波動較大的情況下。
    2)溫度偏差不但反映了工作空間各點溫度的位置誤差,同時也包括了各點溫度隨時間而變化的誤差即溫度波動度。因此溫度偏差更能說明箱內(nèi)的溫度均勻性,一般無需再測高低溫試驗箱的溫度均勻度和溫度波動度。只有當(dāng)某些試驗設(shè)備對溫度波動度有特殊要求時,如對濕熱箱,才標(biāo)出溫度波動度。因為濕熱箱溫度波動度超過±0.5℃時,會帶來較大的濕度波動,增大濕度誤差,從而超過濕度允許偏差。
    GB/T5170.2- 1996,溫度試驗設(shè)備的檢定方法中,對溫度性能指標(biāo)只規(guī)定檢定溫度偏差,而對溫度均勻度未作規(guī)定必須檢定,只在附錄B中提示了溫度波動度、溫度均勻度的檢定方法,這樣的規(guī)定是非常正確的。
    3)溫度均勻度指標(biāo),由于表示各點溫度平均值與點溫度平均值的差值,所以有正負號,只有國標(biāo)的溫度均勻度,因未與點比較或與標(biāo)稱溫度比較,故沒有正負號,所以沒有溫度偏差表示方法清楚準(zhǔn)確。
    4)目前國內(nèi)一些環(huán)境試驗設(shè)備產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)仍要求有溫度波動度、溫度均勻度和溫度偏差三項指標(biāo),顯然沒有必要。建議在修訂這些標(biāo)準(zhǔn)時采用溫度偏差指標(biāo),多加上一個溫度波動度指標(biāo)就很全面了。而且采用溫度偏差符合美軍標(biāo)、國軍標(biāo),和國際電工委員會相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要;求。
    二、高低溫試驗箱(室)溫度不均勻產(chǎn)生的原因
    1)高低溫試驗箱的結(jié)構(gòu)在很大程度上影響工作中間溫度均勻,由于結(jié)構(gòu)難于完全對稱,從而對溫度均勻造成不利影響。如圖示-常用的低溫箱或濕熱箱結(jié)構(gòu)。大門在前,空調(diào)室在箱后部,上送風(fēng)下回風(fēng)。顯然這種結(jié)構(gòu)左右對稱性好,可較易達到左、右溫度均勻,但結(jié)構(gòu)上、下不對稱,前后也完全不同,對工作空間溫度產(chǎn)生了不均勻影響。盡管如此,這種單風(fēng)道結(jié)構(gòu)如設(shè)計處理得當(dāng),實踐證明工作室從01~300m3, 之間都可使用,其溫度偏差都可滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。
    2)由于箱壁的熱傳導(dǎo),而產(chǎn)生漏熱(高溫箱)或漏冷(低溫箱)等熱損失,為了補償熱損失必然會有送風(fēng)溫差,高溫箱的送風(fēng)溫度高于箱內(nèi)工作溫度,低溫箱的送風(fēng)溫度則低于箱內(nèi)工作溫度。由于必然存在的送風(fēng)溫差使工作室內(nèi)產(chǎn)生了溫度不均勻。
    3)由于箱壁六面?zhèn)鳠嵯禂?shù)不等,有的有穿線孔等局部傳熱。使箱壁溫度不均勻,從而使箱壁幅射對流傳熱也不均勻,影響溫場均勻。
    4)箱體的密封性不好,比如大門漏氣,從而影響工作空間的溫場均勻。,
    5)如果檢測溫度偏差要求工作室內(nèi)放置試品,當(dāng)試品體積過大,或放置的方式或位置不恰當(dāng),使空氣對流受阻。將產(chǎn)生較大的溫度偏差。
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