如今，通信設(shè)備的制造廠商，對光電子器件的可靠性要求越來越高，光電子器件和通信設(shè)備的制造廠商之間沒有專門的、統(tǒng)一的光電子器件可靠性試驗方法標(biāo)準(zhǔn)，以至于很難進(jìn)行有效的溝通，影響產(chǎn)品可靠性的提高。而電子器件可靠性評估是指對電子器件產(chǎn)品、半成品或模擬樣片（各種測試結(jié)構(gòu)圖形），通過各種可靠性評價方法，如可靠性試驗、加速壽命試驗和快速評價技術(shù)等，并運(yùn)用數(shù)理統(tǒng)計工具和有關(guān)模擬仿真軟件來評定其壽命、失效率或可靠性質(zhì)量等級。下面，瑞凱儀器整理了光電子器件環(huán)境可靠性的試驗方法供給大家參考。
    1、高溫貯存
    1.1目的
    確定光電子器件能否經(jīng)受高溫下的運(yùn)輸和貯存，以保證光電子器件經(jīng)受高溫后能在規(guī)定條件下正常工作。
    1.2設(shè)備
    試驗設(shè)備為能在規(guī)定溫度下進(jìn)行恒溫控制的高低溫試驗箱。
    1.3 條件試驗條件如下:
    貯存溫度：（85±2）℃或貯存溫度；
    貯存時間:2000 h。
    1.4 程序
    按以下程序進(jìn)行試驗:
    A）試驗前測試試樣的主要光電特性；
    B）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的高低溫試驗箱中，在開始計時之前應(yīng)有足夠升溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)溫度的位置處；
    C）在達(dá)到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測試條件，并對試樣光電特性進(jìn)行測試。
    1.5檢測
在試驗完成后，應(yīng)在48h內(nèi)完成試樣的主要光電特性測試，并進(jìn)行目檢。當(dāng)有規(guī)定時，也可以在試驗過程中的某些時刻進(jìn)行測試。
    1.6失效判據(jù)
    完成試驗后，試樣出現(xiàn)5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之一判為失效。
    2、低溫貯存
    2.1目的
    確定光電子器件能否經(jīng)受低溫下運(yùn)輸和貯存，以保證光電子器件經(jīng)受低溫后能在規(guī)定條件下正常工作。
    2.2設(shè)備
    試驗設(shè)備如下:
    能在規(guī)定溫度下進(jìn)行恒溫控制的高低溫試驗箱。
    2.3 條件
    試驗條件如下:
    貯存溫度:（-40±2）℃或貯存溫度；
    貯存時間:72 h。
    2.4 程序
    按以下程序進(jìn)行試驗:
    a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
    b）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的高低溫試驗箱中，在開始計時之前應(yīng)有足夠降溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)溫度的位置處﹔
    c）在達(dá)到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測試條件，并對試樣光電特性進(jìn)行測試。
    2.5檢測
    在試驗完成后，48 h內(nèi)完成試樣的主要光電特性測試，并進(jìn)行目檢。
    2.6失效判據(jù)
    完成試驗后，試樣出現(xiàn)5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之一判為失效。
    3、溫度循環(huán)
    3.1目的
    確定光電子器件承受高溫和低溫的能力，以及高溫和低溫交替變化對光電子器件的影響，保證光電子器件封裝內(nèi)部的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性。
    3.2設(shè)備
    試驗設(shè)備如下:
    能在加載負(fù)荷時，熱容量和空氣的流量以保證使工作區(qū)和試樣達(dá)到規(guī)定試驗條件的溫度循環(huán)試驗箱；
    能用來連續(xù)監(jiān)視工作區(qū)溫度變化的溫度指示器或記錄儀。
    3.3條件
    試驗條件如下:
    循環(huán)溫度:-40℃～＋85℃；
    高、低溫保持時間:15 min；
    循環(huán)次數(shù):500次（非受控環(huán)境），或100次（受控環(huán)境）；
    升降溫速率:10℃/min。
    3.4程序
    按以下程序進(jìn)行試驗:
    a）試驗前對試樣的主要光電特性進(jìn)行測試；
    b）將試樣放置在試驗箱內(nèi)，其位置不應(yīng)妨礙試樣周圍空氣的流動；
    c）試樣在規(guī)定條件下連續(xù)完成規(guī)定的循環(huán)次數(shù)，試驗曲線見圖3；
    d）完成規(guī)定的循環(huán)后，把試樣從試驗箱移出放置24 h，使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測試條件后進(jìn)行光電特性測試。

    由于電源或設(shè)備故障原因，允許中斷試驗。如果中斷的循環(huán)次數(shù)超過規(guī)定循環(huán)的總次數(shù)的10%時，不管任何理由，試驗應(yīng)重新從頭開始進(jìn)行。

溫度循環(huán)試驗曲線

    3.5檢測
    完成試驗后，在不放大或放大不超過3倍情況下，對試樣的標(biāo)志進(jìn)行檢驗；在放大10倍~20倍情況下，對外殼引線或密封部位進(jìn)行檢驗；并對試樣主要光電特性進(jìn)行測試。
    3.6失效判據(jù)
    完成試驗后，試樣出現(xiàn)5.2.1.6  A）、B）、C）中情況之一判為失效。
    4、恒定濕熱
    4.1目的
    本試驗的目的是測定光電子器件承受高溫和高濕的能力，以及高溫和高濕對器件的影響程度，保證光電子器件的長期可靠性。
    4.2設(shè)備
    試驗設(shè)備為在加載負(fù)荷時能為工作區(qū)提供和控制規(guī)定的溫度、濕度、熱容量和空氣流量的恒溫恒濕試驗箱。
    4.3 條件
    試驗條件如下:
    溫度:＋85 ℃；
    濕度:85%RH；
    保持時間:500 h（不加偏置）或1000 h（加偏置）；
    規(guī)定的偏置電壓或電流（適用時）。
    4.4程序
    按以下程序進(jìn)行試驗:
    a）試驗前對試樣的主要光電特性進(jìn)行測試；
    b）將試樣放進(jìn)試驗箱內(nèi)，其擺放位置不應(yīng)妨礙試樣四周空氣的流動；c）試樣在規(guī)定條件下連續(xù)完成規(guī)定的試驗時間。
    5.3.4.5 檢測
    試樣完成試驗后，在室溫環(huán)境條件下放置24 h，然后對其主要光電特性進(jìn)行測試和目檢。測試應(yīng)和目檢。測試應(yīng)在移出試驗箱48h內(nèi)完成。
    在不放大或放大不超過3倍情況下，對試樣的標(biāo)志進(jìn)行檢驗；
    在放大10倍~20倍情況下，對外殼引線或密封部位進(jìn)行檢驗。
    4.6失效判據(jù)
    完成試驗后，試樣出現(xiàn)下列情況之一判為失效:
    a）標(biāo)志全部或部分脫落、筐色和模糊；
    b）封裝金屬零件的鍍層被腐蝕、起泡和明顯變色；
    c）試樣基材或外包材（如封帽，引線，封套等）腐蝕面積超過5%，或貫穿性腐蝕；
    d）引線損壞或部分分離；
    e） 5.2.1.6 b）或c）中規(guī)定要求。
    5、抗潮濕循環(huán)
    5.1目的
    采用溫度和濕度循環(huán)來提供一個凝露和干燥的交替過程，使腐蝕過程加速，并使密封不良的縫隙“呼吸”進(jìn)濕氣。即以加速方式評估光電子器件在高溫和高濕條件下，抗退化效應(yīng)的能力。
    5.2設(shè)備
    試驗設(shè)備：快速溫度變化試驗箱，它能滿足圖4所示的循環(huán)條件要求，以及按規(guī)定進(jìn)行測量的測試儀器。
    5.3 條件
    試驗條件如下:
    循環(huán):按圖4進(jìn)行20次連續(xù)循環(huán)。當(dāng)有規(guī)定時，可進(jìn)行10次連續(xù)循環(huán)；

    偏置電壓:試樣按規(guī)定施加偏置電壓。當(dāng)有特殊規(guī)定時，也可不加偏置電壓。

    5.4程序
    按以下程序進(jìn)行試驗:
    a）試驗前對試樣的主要光電特性進(jìn)行測試。
    b）將試樣放置在試驗箱內(nèi)，應(yīng)使其充分暴露在試驗環(huán)境中。按規(guī)定的條件對試樣進(jìn)行試驗。
    c）完成規(guī)定的循環(huán)次數(shù)之前（不包括后一次循環(huán)），如發(fā)生了不多于1次的意外的中斷試驗（如電源中斷或設(shè)備故障），可重復(fù)一次循環(huán)，試驗繼續(xù)進(jìn)行；若在后一次循環(huán)期間出現(xiàn)意外中斷，除要求重做該循環(huán)外，還要求再進(jìn)行一次無中斷的循環(huán)；任何中斷時間超過24 h，都需要重新進(jìn)行試驗。在10次循環(huán)中，至少有5次進(jìn)行低溫子循環(huán)。在低溫子循環(huán)期間，試樣應(yīng)在—10℃和不控制濕度的條件下，至少保持3 h。
    d）在低溫子循環(huán)后，將試樣恢復(fù)到25 ℃，相對濕度至少為80%，并一直保持到下一個循環(huán)的開始。
    5.5檢測
    試樣完成試驗后，在室溫環(huán)境條件下放置24 h，然后對其主要光電特性進(jìn)行測試。測試應(yīng)在移出試驗箱48 h內(nèi)完成。
    在不放大或放大不超過3倍情況下，對試樣的標(biāo)志進(jìn)行檢驗；在放大10倍～20倍情況下，對外殼引線或密封部位進(jìn)行檢驗。
    5.6 失效判據(jù)
    完成試驗后，試樣出現(xiàn)5.3.4.6  A）、B）、C）、E）中情況之一判為失效。
    6、高溫壽命
    6.1目的
    確定光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。
    6.2設(shè)備
    試驗設(shè)備如下:
    能在規(guī)定溫度下進(jìn)行恒溫控制并帶有鼓風(fēng)的高溫烤箱；
    使試樣引出端在規(guī)定電路中有可靠的電連接的插座；
    安裝夾具；
    加載驅(qū)動的電壓源和/或電流源。
    6.3 條件
    試驗條件如下:
    試驗溫度:（85±2）℃（組件或模塊），或（70±2）℃（組件或模塊），或（175±2）℃（光電二極管）；
    工作偏置:正常工作偏置（不限于）；
    試驗時間:5 000 h（不限于）。
    6.4 程序
    按以下程序進(jìn)行試驗:
    a）試驗前應(yīng)對試樣的主要光電特性進(jìn)行測試；
    b）將試樣放進(jìn)高溫試驗箱內(nèi)，并使試樣處于工作狀態(tài)；
    c）按照試驗條件開始試驗，記錄起始時間、試驗溫度和試樣數(shù)量；
    d）使用監(jiān)視儀器，從試驗開始到結(jié)束監(jiān)視試驗溫度和工作偏置，以保證全部試樣按條件施加應(yīng)力；
    e）在中間測試時將樣品從高溫試驗箱取出，測試完成后放回高溫試驗箱繼續(xù)進(jìn)行試驗。
    6.5檢測
    一般每168h在常溫下測試一次光電特性。在測試前應(yīng)先去掉偏置，然后冷卻到室溫后進(jìn)行測試。
    6.6失效判據(jù)
    完成試驗后，試樣出現(xiàn)下列情況之一判為失效:
    a)標(biāo)志全部或部分脫落、褪色和模糊；
    b） 5.2.1.6 B）或C）中規(guī)定要求。