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聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動(dòng)態(tài)
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瑞凱儀器
18 2021-09

風(fēng)風(fēng)雨雨-瑞凱儀器闖過的二十年!

瑞凱研發(fā)設(shè)計(jì)為一體,并細(xì)分為幾大設(shè)計(jì)方向,每個(gè)方向又設(shè)有專門的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊(duì)模塊,各模塊的設(shè)計(jì)結(jié)果匯總為一個(gè)整體。這樣既保證了產(chǎn)品的特性,還能達(dá)到產(chǎn)品的優(yōu)化。如今,瑞凱堪稱是制造大廠,也基本上具備了多方面面進(jìn)軍制造強(qiáng)廠的條件。
集成電路芯片高低溫測試的應(yīng)用

集成電路芯片高低溫測試的應(yīng)用

通過實(shí)際應(yīng)用發(fā)現(xiàn),必須注意以下一些具體的環(huán)節(jié),如測試板的隔離、防潮,被測器件的靜電保護(hù),被測器件芯片溫度的確定等問題、才…
LED燈溫度循環(huán)試驗(yàn)測試方法

LED燈溫度循環(huán)試驗(yàn)測試方法

溫度循環(huán)試驗(yàn)應(yīng)按照GB/T2423.22-2012的試驗(yàn)Nb:“規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定進(jìn)行。試驗(yàn)應(yīng)在滿足GB…
半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測試標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測試標(biāo)準(zhǔn)

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件。在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件綜合、電…
IC芯片等產(chǎn)品高溫測試失效原因分析

IC芯片等產(chǎn)品高溫測試失效原因分析

該產(chǎn)品的高溫失效問題,與COB各材料都有著密切的關(guān)系:PCB、IC、邦定線、黑膠。但主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下…
高低溫試驗(yàn)箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

高低溫試驗(yàn)箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

本文設(shè)計(jì)的高低溫試驗(yàn)箱箱體的內(nèi)部工作環(huán)境為非真空狀態(tài),工作溫度范圍廣,內(nèi)部空間尺寸跨度較大,對內(nèi)框架的設(shè)計(jì)提出了挑戰(zhàn)。如…
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱價(jià)格

PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱價(jià)格是多少?

PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱是磁性材料、電子元器件、光電組件等領(lǐng)域常用的測試設(shè)備,其工作原理是通過微電腦控制系統(tǒng)智能迅速的產(chǎn)…

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