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<i style='color:red'>gjb</i> 5389.14-2005 炮射導(dǎo)彈試驗(yàn)方法 第14部分 溫度循環(huán)試驗(yàn)

gjb 5389.14-2005 炮射導(dǎo)彈試驗(yàn)方法 第14部分 溫度循環(huán)試驗(yàn)

本部分規(guī)定了炮射導(dǎo)彈的溫度循環(huán)試驗(yàn)方法。本部分適用于炮射導(dǎo)彈溫度循環(huán)試驗(yàn)。目的:檢查炮射導(dǎo)彈從低溫環(huán)境條件到高溫環(huán)境條件周期變化的情況下能否正常使用。
軍工品環(huán)境可靠性試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)詳情介紹

軍工品環(huán)境可靠性試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)詳情介紹

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫貯存試驗(yàn)gjb4.4-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫試驗(yàn)gjb4.3-1983軍用電子測(cè)試設(shè)備通用規(guī)范gjb3947A-2009軍用計(jì)算機(jī)通用規(guī)范gjb322A-1998軍用通信設(shè)備通用規(guī)范gjb367A-2001軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分:低溫試驗(yàn)gjb150.4A-2009
艦船電子設(shè)備可靠性環(huán)境試驗(yàn)順序的確定

艦船電子設(shè)備可靠性環(huán)境試驗(yàn)順序的確定

可靠性環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目確定后,按照什么順序進(jìn)行試驗(yàn),gjb150-1986、gjb150A-2009和gjb4-1983三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中均有一定的規(guī)定。
可靠性環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目的選擇

可靠性環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目的選擇

艦船裝備的環(huán)境試驗(yàn)基本上是在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行,實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)具有重復(fù)性、可再現(xiàn)性。目前,常用的環(huán)境試驗(yàn)軍用標(biāo)準(zhǔn)有gjb150-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》、gjb150A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法》和gjb4-1983《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)》等。
ESS試驗(yàn)溫度循環(huán)次數(shù)確定方法研究

ESS試驗(yàn)溫度循環(huán)次數(shù)確定方法研究

目前,電子裝備環(huán)境應(yīng)力篩選主要依據(jù)gjb1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法》,但由于該標(biāo)準(zhǔn)的頒發(fā)時(shí)間較早,隨著科技的發(fā)展和進(jìn)步,對(duì)電子設(shè)備可靠性指標(biāo)要求也越來(lái)也高,循環(huán)次數(shù)選取是一個(gè)值得探討的問(wèn)題。
按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行ESS時(shí)常遇到的問(wèn)題

按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行ESS時(shí)常遇到的問(wèn)題

gjb1032第1節(jié)明確,本標(biāo)準(zhǔn)適用于地面固定設(shè)備、地面移動(dòng)設(shè)備艦船用設(shè)備、飛機(jī)用設(shè)備及外掛、導(dǎo)彈用設(shè)備上的電子產(chǎn)品,且在其第五節(jié)明確了篩選條件:80~120h的溫度循環(huán)和10~20min.0.04g/Hz的隨機(jī)振動(dòng)。這是不合適的,因?yàn)镋SS的目的是剔除早期缺陷,同樣的產(chǎn)品用在不同環(huán)境中表現(xiàn)出的故障特征是不一樣的。舉一個(gè)簡(jiǎn)單的例子來(lái)說(shuō),設(shè)某電子產(chǎn)品中存在固有缺陷a.b.c.d。
微電子器件常用的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

微電子器件常用的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

通常,微電子器件產(chǎn)品使用如下幾個(gè)低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn): 1)CJB150.2A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分低氣壓(高度)試驗(yàn)》;2)gjb360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法105低氣壓試驗(yàn)》(等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F);3)gjb548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法1001低氣壓(高空作業(yè))》(等效美軍標(biāo)MIL-STD-883D);
怎樣判斷高低溫試驗(yàn)箱的一個(gè)循環(huán)?

怎樣判斷高低溫試驗(yàn)箱的一個(gè)循環(huán)?

高低溫試驗(yàn)箱的一個(gè)循環(huán)怎么判定?這個(gè)要看具體的試驗(yàn)內(nèi)容以及使用檢測(cè)需要,我們可以以試驗(yàn)步驟上的步到結(jié)尾一步作為一個(gè)循環(huán),也可以抽取其中的幾步作為一個(gè)循環(huán)。就比如說(shuō)gjb150.9A中規(guī)定軍工產(chǎn)品濕熱試驗(yàn),產(chǎn)品濕熱試驗(yàn)以24h為一個(gè)循環(huán)周期,至少進(jìn)行10個(gè)循環(huán),這個(gè)試驗(yàn)從頭到尾算作一個(gè)循環(huán)。
<i style='color:red'>gjb</i>150.9A-2009濕熱試驗(yàn)測(cè)試程序及試驗(yàn)方法

gjb150.9A-2009濕熱試驗(yàn)測(cè)試程序及試驗(yàn)方法

gjb150.9A-2009濕熱試驗(yàn)適用于對(duì)軍用裝備進(jìn)行濕熱試驗(yàn),確定裝備耐受濕熱大氣影響的能力。本部分規(guī)定了軍用裝備的實(shí)驗(yàn)室濕熱實(shí)驗(yàn)的目的與應(yīng)用、剪裁指南、試驗(yàn)要求、試驗(yàn)過(guò)程及檢測(cè)結(jié)果分析等內(nèi)容。濕熱會(huì)對(duì)裝備產(chǎn)生物理和化學(xué)的影響:溫濕度的變化可以導(dǎo)致裝備內(nèi)部出現(xiàn)凝露現(xiàn)象。
電子元器件濕熱試驗(yàn)質(zhì)量控制與改進(jìn)

電子元器件濕熱試驗(yàn)質(zhì)量控制與改進(jìn)

軍用設(shè)備一般按照gjb150-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》規(guī)定的方法開(kāi)展科研、生產(chǎn)和交收等各階段的環(huán)境試驗(yàn),其中濕熱試驗(yàn)按照gjb150.9-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)》規(guī)定的方法進(jìn)行,濕熱試驗(yàn)的目的是確定軍用設(shè)備在高溫及高濕環(huán)境條件下的適應(yīng)性。

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