熱門關(guān)鍵詞： 高低溫試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 無風(fēng)烤箱 鹽霧試驗(yàn)箱
產(chǎn)品特點(diǎn)：
·多層級密碼安全保護(hù)系統(tǒng)來保護(hù)用戶的寶貴數(shù)據(jù)
·試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸
·任務(wù)日志：記錄并保留試驗(yàn)箱超過15年的歷史
·便捷的程序入口、試驗(yàn)設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控，可通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問
·產(chǎn)品溫度控制：通過提高環(huán)境空氣目標(biāo)溫度來控制產(chǎn)品溫度，進(jìn)而提高產(chǎn)品溫度變化率
·系統(tǒng)監(jiān)控：檢測制冷系統(tǒng)的壓力和溫度是否過高，并在故障出現(xiàn)時(shí)提醒用戶
·根據(jù)設(shè)計(jì)了不同的尺寸，從1立方到100立方，并且擁有不同的性能配置。
瑞凱RIUKAI?可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)用于產(chǎn)品溫度及濕度可靠性試驗(yàn)。符合國標(biāo)JJF 1564-2016和JJG 205-2005中對試驗(yàn)箱的標(biāo)準(zhǔn)要求。一般用在產(chǎn)品材料生產(chǎn)、運(yùn)輸、儲存和使用過程的各種溫度變化。
試驗(yàn)箱采用RIUKAI?研發(fā)的智能控制系統(tǒng)軟著登字第3642019號，用戶界面可讓您隨時(shí)隨地對測試進(jìn)行編程、控制和監(jiān)控—甚至可以在平板電腦或智能手機(jī)上進(jìn)行。恒溫恒濕試驗(yàn)箱在個(gè)性化定制、適用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)，非常經(jīng)濟(jì)和人性化。
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經(jīng)國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測檢測，符合“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件”系列標(biāo)準(zhǔn)中的：
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱 （12h+12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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