淺析高低溫試驗(yàn)箱校準(zhǔn)溫度的選擇
作者:
網(wǎng)絡(luò)
編輯:
瑞凱儀器
來(lái)源:
網(wǎng)絡(luò)
發(fā)布日期: 2021.05.06
高低溫試驗(yàn)箱是開展溫度環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)必不可少的硬件設(shè)備。定期校準(zhǔn)是保證設(shè)備性能指標(biāo)有效性的常用手段。本文闡明了影響溫度準(zhǔn)確性的原因、風(fēng)險(xiǎn)和解決思路,有助于實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)溫度的選擇。
引言
高低溫試驗(yàn)箱(以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”)是實(shí)現(xiàn)環(huán)境溫度試驗(yàn)的硬件設(shè)備。為了保證設(shè)備性能滿足標(biāo)準(zhǔn)方法要求,實(shí)驗(yàn)室一般都按照J(rèn)JF 1101-2003《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》第6.1條款開展定期校準(zhǔn),校準(zhǔn)項(xiàng)目包括溫度偏差、溫度均勻度和溫度波動(dòng)度。
在三個(gè)校準(zhǔn)項(xiàng)目中,溫度偏差用于評(píng)價(jià)設(shè)備空間點(diǎn)溫度與設(shè)備顯示溫度的偏離情況,溫度均勻度用于評(píng)價(jià)設(shè)備工作艙空間溫度場(chǎng)分布,溫度波動(dòng)度用于評(píng)價(jià)設(shè)備溫度重復(fù)性。其中,溫度偏差是容易出問題的項(xiàng)目,而且隱蔽性強(qiáng),需要實(shí)驗(yàn)室重點(diǎn)關(guān)注。
在實(shí)際工作中,某些實(shí)驗(yàn)室在選擇校準(zhǔn)溫度時(shí),會(huì)選擇能體現(xiàn)設(shè)備溫度范圍的極限溫度和常用溫度進(jìn)行校準(zhǔn),認(rèn)為只要這些溫度點(diǎn)的溫度偏差滿足標(biāo)準(zhǔn)方法要求,則所有溫度點(diǎn)的溫度偏差都滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。這種校準(zhǔn)溫度的選擇實(shí)際上存在一定的局限性,不一定適用實(shí)驗(yàn)室使用的高低溫試驗(yàn)箱。
01、影響溫度偏差變化的主要原因
高低溫試驗(yàn)箱的主要組成包括溫度測(cè)量系統(tǒng)、電氣控制系統(tǒng)、制冷/加熱系統(tǒng)和空氣循環(huán)系統(tǒng)等四個(gè)部分。圖1位溫度調(diào)節(jié)過程示意圖。
溫度測(cè)量系統(tǒng)通過溫度傳感器把感受到的溫度轉(zhuǎn)化成電信號(hào)傳輸給電氣控制系統(tǒng),同時(shí)也通過A/D轉(zhuǎn)換顯示在設(shè)備面板,即顯示溫度。由于溫度測(cè)量系統(tǒng)的溫度傳感器參與控制,所以又叫溫度控制傳感器。電氣控制系統(tǒng)將測(cè)量結(jié)果與設(shè)備內(nèi)置的溫度特征參數(shù)進(jìn)行比對(duì),然后通過一系列的動(dòng)作調(diào)節(jié)制冷/加熱系統(tǒng)的能量輸出。輸出能量通過空氣循環(huán)系統(tǒng)散布到設(shè)備工作空間,形成一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)。
設(shè)備空間的溫度值與溫度測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量值之間的差值就是溫度偏差。影響溫度偏差的因素包括溫度測(cè)量系統(tǒng)的穩(wěn)定性和精度,控制系統(tǒng)的能量輸出和空氣循環(huán)系統(tǒng)的能量傳遞效果。在這些因素綜合作用下,溫度偏差是不可避免的。
當(dāng)設(shè)備加工調(diào)試完畢后,控制系統(tǒng)和空氣循環(huán)系統(tǒng)的對(duì)溫度偏差的影響基本就固化下來(lái),一般不會(huì)發(fā)生大的變化。而溫度測(cè)量系統(tǒng)在設(shè)備使用過程中,相關(guān)參數(shù)容易產(chǎn)生偏移,導(dǎo)致溫度偏差發(fā)生變化。所以設(shè)備投用后,溫度測(cè)量系統(tǒng)的穩(wěn)定性和精度是溫度偏差發(fā)生變化的主要原因和常見原因。
02、溫度測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)原理簡(jiǎn)介
2.1溫度-阻值非線性原理
溫度測(cè)量系統(tǒng)由溫度傳感器和接口電路構(gòu)成。溫度傳感器有熱電阻和熱電偶兩類。在不同溫度作用下,熱電阻的電阻值或熱電偶的電流會(huì)產(chǎn)生變化。接口電路把電阻或電流變化情況轉(zhuǎn)變成可用電信號(hào),經(jīng)過調(diào)校后輸出到電氣控制系統(tǒng)對(duì)設(shè)備進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)。因此,溫度測(cè)量系統(tǒng)的輸出是否準(zhǔn)確與溫度傳感器和接口電路都有直接關(guān)系。
高低溫試驗(yàn)箱常用的溫度傳感器是PT100鉑電阻傳感器。PT表示傳感器材質(zhì)為鉑金,100表示0℃的電阻為100歐姆。PT100溫度測(cè)量范圍為-200℃~650℃,屬于正電阻型傳感器,即溫度傳感器的阻值隨著溫度升高變大,反之則變小。阻值與溫度的對(duì)應(yīng)關(guān)系如圖2中實(shí)線所示。
鉑電阻的阻值與溫度的對(duì)應(yīng)關(guān)系可以表示成兩個(gè)數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系:
200 ℃~0 ℃,阻值與溫度的函數(shù)關(guān)系:
Rt=R0[1+At+Bt2+C(t-100)t3]
0 ℃~650 ℃,阻值與溫度的函數(shù)關(guān)系:
Rt=R0[1+At+Bt2]
其中,Rt是t ℃的電阻值,R0是0 ℃時(shí)的電阻值。
A、B、C為特定常數(shù)。
從以上兩個(gè)函數(shù)關(guān)系表達(dá)式可以看出,兩個(gè)函數(shù)中都包含變量Bt2,所以Rt特征曲線是一條單調(diào)上凸的曲線,溫度和電阻值不是線性對(duì)應(yīng)關(guān)系。PT100作為鉑電阻溫度傳感器,其電阻值與溫度也是非線性關(guān)系。
溫度傳感器輸出的是非線性信號(hào),試驗(yàn)設(shè)備電氣控制系統(tǒng)需要輸入的是線性信號(hào),兩者之間就需要接口電路進(jìn)行線性化信號(hào)調(diào)校。目前,鉑電阻的線性化調(diào)校方法有讀表法、作圖法和數(shù)學(xué)公式法。讀表法就是按照公開發(fā)布的阻值-溫度分度表,選取特定的參數(shù)作為基準(zhǔn)進(jìn)行信號(hào)處理設(shè)計(jì)。其余溫度點(diǎn),則通過阻值補(bǔ)償,使輸出信號(hào)貼近分度表給出的參數(shù)。
在GB/T 30121-2013/IEC60751:2008《工業(yè)鉑熱電阻及鉑感溫元件》分度表中,明確規(guī)定了PT100各溫度點(diǎn)下的溫度-阻值對(duì)應(yīng)值,數(shù)據(jù)詳細(xì)統(tǒng)一,廣泛應(yīng)用在國(guó)內(nèi)外高低溫試驗(yàn)箱接口電路線性化調(diào)校算法中,屬于高低溫試驗(yàn)箱測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)參數(shù)之一。
2.2設(shè)備調(diào)校方式
雖然設(shè)備廠家在信號(hào)處理算法設(shè)計(jì)中,基本上都采用GB/T30121-2013/IEC60751:2008標(biāo)準(zhǔn)中溫度-阻值分度表給出的參數(shù),但由于廠家算法不一樣,信號(hào)調(diào)校的方式也存在差異,歸納起來(lái)就是存在整體調(diào)校和多點(diǎn)調(diào)校兩種。具體是采用哪種方式進(jìn)行調(diào)校的,需要查詢廠家提供的設(shè)備資料。
整體調(diào)校設(shè)計(jì)是以設(shè)備溫度范圍的上下限溫度對(duì)應(yīng)的阻值作為基準(zhǔn),將兩點(diǎn)連線作為基準(zhǔn)線,選取中間某幾點(diǎn)溫度的阻值作為參照,模擬出一條溫度-阻值線性變化線段作為特征曲線。整體調(diào)校的設(shè)備,整個(gè)溫度范圍內(nèi)的溫度變化趨勢(shì)是相互關(guān)聯(lián)的。當(dāng)某個(gè)溫度點(diǎn)出現(xiàn)變化,整條特征曲線都會(huì)發(fā)生變化,上下限溫度一定會(huì)同時(shí)或單獨(dú)發(fā)生同向變化。
多點(diǎn)調(diào)校設(shè)計(jì)是將設(shè)備溫度范圍分成多個(gè)溫度段,每段選取兩個(gè)端點(diǎn)溫度的阻值作為基準(zhǔn),將兩點(diǎn)連線作為基準(zhǔn)線,模擬出一條溫度-阻值線性變化特征曲線。由于設(shè)備整個(gè)溫度范圍內(nèi)的特征曲線通過多條折線模擬的,業(yè)界也稱之為多點(diǎn)折線調(diào)校。多點(diǎn)調(diào)校的設(shè)備,只有處于同一溫度段的溫度才存在關(guān)聯(lián)關(guān)系。當(dāng)某一溫度發(fā)生偏移,只有處于同一段的溫度才會(huì)受影響,不影響其他溫度段的溫度。
03、案例分析
國(guó)內(nèi)某知名科研院所實(shí)驗(yàn)室的年度校準(zhǔn)計(jì)劃中,按照GB/T5170.2-2017/8.1.2條款推薦,結(jié)合實(shí)驗(yàn)室使用需求,校準(zhǔn)溫度統(tǒng)一選取了-70℃、-55℃、-10℃、40℃、85℃、125℃、150℃等7個(gè)溫度點(diǎn)。
案例一
查閱某型號(hào)的高低溫試驗(yàn)箱校準(zhǔn)證書,其溫度偏差數(shù)據(jù)見表1。查詢?cè)O(shè)備相關(guān)資料,設(shè)備容積為1立方米,溫度范圍為-70℃~150℃,滿足GB/T2423.1和GB/T2423.2試驗(yàn)方法要求。根據(jù)廠方提供的資料,該設(shè)備溫度屬于多點(diǎn)調(diào)校設(shè)計(jì),溫度調(diào)校點(diǎn)為-70℃、-45℃、-10℃、-5℃、40℃、70℃、125℃、150℃。
如果只看校準(zhǔn)數(shù)據(jù),按照GB/T2423.1或GB/T2423.2對(duì)溫度偏差的要求,這些溫度點(diǎn)的溫度偏差都小于±2℃,滿足標(biāo)準(zhǔn)方法規(guī)定。但是,當(dāng)利用這些校準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)一步分析設(shè)備整個(gè)溫度范圍的溫度偏差時(shí),就會(huì)發(fā)現(xiàn)以下兩個(gè)方面問題:
1)校準(zhǔn)溫度-70℃和-55℃屬于設(shè)備-70℃~-45℃溫度調(diào)校段。由于同一溫度段的溫度偏移變化趨勢(shì)是一致的,所以按此趨勢(shì)經(jīng)過推算,-45℃溫度偏差約為+2.5℃,已經(jīng)超出了標(biāo)準(zhǔn)方法規(guī)定。同理,校準(zhǔn)溫度85℃和125℃屬于設(shè)備70℃~125℃溫度調(diào)校段,則可以算出70℃的溫度偏差約為-0.6℃。
2)設(shè)備-10℃~-5℃和-5℃~40℃溫度段分別都只有一個(gè)溫度點(diǎn),無(wú)法推算出-5℃的溫度偏差,無(wú)法判斷這兩段溫度的變化趨勢(shì),因此無(wú)法判斷-10℃~-5℃~40℃區(qū)間的溫度偏差是否滿足不大于±2℃的要求。
案例二
查閱某型號(hào)的高低溫試驗(yàn)箱校準(zhǔn)證書,其溫度偏差數(shù)據(jù)見表2。查詢?cè)O(shè)備相關(guān)資料,設(shè)備容積為0.2立方米,溫度范圍為-70℃~150℃,滿足GB/T2423.1和GB/T2423.2試驗(yàn)方法要求。根據(jù)廠方提供的資料,該設(shè)備溫度屬于整體調(diào)校設(shè)計(jì)。
以X軸為溫度軸,Y軸作為溫度偏差軸。根據(jù)校準(zhǔn)數(shù)據(jù),將-70℃和150℃的溫度偏差連起來(lái),可以發(fā)現(xiàn)該連線圍繞X軸的某一溫度點(diǎn)發(fā)生了旋轉(zhuǎn),其它溫度都隨著連線的旋轉(zhuǎn)方向產(chǎn)生同向偏移。所有校準(zhǔn)溫度的溫度偏差都滿足標(biāo)準(zhǔn)方法要求。
案例一中的設(shè)備屬于多點(diǎn)調(diào)校,實(shí)驗(yàn)室選取的校準(zhǔn)溫度就不足以反映設(shè)備的整體性能,只能代表校準(zhǔn)溫度的偏移情況。案例二中的設(shè)備屬于整體調(diào)校,實(shí)驗(yàn)室選取的校準(zhǔn)溫度能反映設(shè)備的整體性能。所以實(shí)驗(yàn)室選取的校準(zhǔn)溫度不恰當(dāng),不能完全適用實(shí)驗(yàn)室所用的試驗(yàn)設(shè)備。
04、風(fēng)險(xiǎn)與防范
選擇的校準(zhǔn)溫度不合理,會(huì)給實(shí)驗(yàn)室?guī)?lái)技術(shù)風(fēng)險(xiǎn)和經(jīng)濟(jì)風(fēng)險(xiǎn),進(jìn)而影響相關(guān)組織或用戶對(duì)實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制工作的質(zhì)疑,造成社會(huì)負(fù)面影響。
技術(shù)風(fēng)險(xiǎn)方面,會(huì)影響實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)結(jié)果的有效性,導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)室報(bào)告的檢測(cè)結(jié)果存在錯(cuò)誤。溫度試驗(yàn)有兩種形式:白盒法和黑盒法。白盒法就是已知試驗(yàn)溫度,考核產(chǎn)品在該溫度下的性能和功能。黑盒法則是根據(jù)產(chǎn)品的某個(gè)信號(hào),要求實(shí)驗(yàn)室給出對(duì)應(yīng)的溫度值。對(duì)于多點(diǎn)調(diào)校的設(shè)備,實(shí)驗(yàn)室如使用非校準(zhǔn)溫度點(diǎn)開展白盒法試驗(yàn),或試驗(yàn)方法屬于黑盒法,校準(zhǔn)溫度選擇不合理則檢測(cè)結(jié)果存在風(fēng)險(xiǎn),影響實(shí)驗(yàn)室的外部質(zhì)量控制結(jié)果,進(jìn)而影響相關(guān)組織對(duì)實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)的認(rèn)可或認(rèn)定,造成社會(huì)負(fù)面影響。
經(jīng)濟(jì)風(fēng)險(xiǎn)方面,會(huì)增加實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)成本,耽誤設(shè)備投用時(shí)間。計(jì)量機(jī)構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)報(bào)價(jià)中一般都只包含4~5個(gè)溫度點(diǎn)。校準(zhǔn)溫度選擇的不合理,除了不能反映設(shè)備的整體性能以外,還可能因?yàn)樾?zhǔn)溫度點(diǎn)數(shù)量過多,增加校準(zhǔn)支出。同時(shí),實(shí)驗(yàn)室對(duì)設(shè)備校準(zhǔn)前狀態(tài)不清楚,在溫度偏差已經(jīng)超差的情況下進(jìn)行校準(zhǔn),導(dǎo)致二次校準(zhǔn),不僅耽誤時(shí)間也會(huì)造成額外的校準(zhǔn)成本。
測(cè)量人員應(yīng)充分理解GB/T 2423.1-2008和為了避免校準(zhǔn)溫度選擇風(fēng)險(xiǎn),兼顧實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備校準(zhǔn)成本支出,實(shí)驗(yàn)室在開展設(shè)備校準(zhǔn)管理時(shí),應(yīng)注意以下幾個(gè)事項(xiàng):
實(shí)驗(yàn)室在制定校準(zhǔn)計(jì)劃前,應(yīng)查閱設(shè)備資料,了解設(shè)備溫度調(diào)校設(shè)計(jì)方式,編制設(shè)備校準(zhǔn)方案并實(shí)時(shí)更新,指導(dǎo)設(shè)備校準(zhǔn)計(jì)劃制定。
首次校準(zhǔn)時(shí),選擇的校準(zhǔn)溫度應(yīng)能充分反映設(shè)備的整體狀態(tài)。
每次校準(zhǔn)后,實(shí)驗(yàn)室應(yīng)盡量收集保存設(shè)備當(dāng)前狀態(tài)的相關(guān)數(shù)據(jù),留作后續(xù)校準(zhǔn)計(jì)劃的制定參考。
在新一輪校準(zhǔn)計(jì)劃制定時(shí),實(shí)驗(yàn)室應(yīng)對(duì)設(shè)備當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行確認(rèn),對(duì)比以前的數(shù)據(jù),分析可能存在的溫度偏差超差點(diǎn),采取必要的維護(hù)維修工作。
如果實(shí)驗(yàn)室選擇的校準(zhǔn)溫度值或溫度點(diǎn)數(shù)量不能充分反映設(shè)備的整體性能,實(shí)驗(yàn)室應(yīng)分析可能存在的風(fēng)險(xiǎn),并告知設(shè)備使用者。
結(jié)論
實(shí)驗(yàn)室在選擇高低溫試驗(yàn)箱校準(zhǔn)溫度時(shí),應(yīng)充分了解設(shè)備的相關(guān)信息,分析設(shè)備使用狀態(tài),制定文件化的校準(zhǔn)方案,建立科學(xué)系統(tǒng)的管理方式,才能降低校準(zhǔn)溫度選擇風(fēng)險(xiǎn),避免可能遇到的技術(shù)風(fēng)險(xiǎn)和經(jīng)濟(jì)風(fēng)險(xiǎn),提升檢測(cè)結(jié)果的有效性,實(shí)現(xiàn)低風(fēng)險(xiǎn)、低成本、高質(zhì)量的校準(zhǔn)管理。
PRODUCT RECOMMENDATION產(chǎn)品推薦
-
-
01 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
是模擬產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作與儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結(jié)露試驗(yàn)...等),檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變的測(cè)試設(shè)備。
查看詳情+
-
-
02 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
是用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
查看詳情+
-
-
03 快速溫變?cè)囼?yàn)箱
是通過向待測(cè)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力,使得由不良元器件、零部件或工藝缺陷等引起的產(chǎn)品早期缺陷加速變成故障,并加以發(fā)現(xiàn)和排除的過程,是一個(gè)經(jīng)濟(jì)有效的工程研究、制造改進(jìn)手段。
查看詳情+
-
-
04 HAST試驗(yàn)箱
用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。在溫度/濕度/偏壓條件下應(yīng)用于加速濕氣的滲透,可通過外部保護(hù)材料(塑封料或封口),或在外部保護(hù)材料與金屬傳導(dǎo)材料之間界面。
查看詳情+
-
-
05 步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室
測(cè)試產(chǎn)品在不同溫度、濕度等氣候條件下的性能和壽命。應(yīng)用于國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器件以及塑膠、化工、制藥工業(yè)相關(guān)產(chǎn)品的耐熱、耐寒測(cè)試。
查看詳情+