PCT試驗(yàn)箱測(cè)試除了觀察外觀及孔壁,還需觀察哪些?
作者:
網(wǎng)絡(luò)
編輯:
瑞凱儀器
來源:
網(wǎng)絡(luò)
發(fā)布日期: 2019.12.19
【問】
經(jīng)過
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱測(cè)試后我們除了觀察外觀及孔壁有無問題外,還需觀察哪些?一般BGA在生產(chǎn)過程中常發(fā)生在PCT后之情況為何?
【答】
PCT高壓加速老化測(cè)試,主要功能是利用高溫高濕對(duì)電子零件的影響,來測(cè)試電子零件材料與制造質(zhì)量的水平。在BGA產(chǎn)品方面,常用來監(jiān)控Solder mask的adhesion有無異常,同時(shí)也會(huì)用來測(cè)試基材是否有離子遷移(―on Migration)或漏電(Leaking)現(xiàn)象。