因為目前的測試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費冗長的時間。因此，有其他的團隊開始研究加速壽命測試方式和壽命推估模型，而Highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST)是目前有可能拿來做加速壽命推估的測試方法。

    HAST 是由固態(tài)技術(shù)協(xié)會(JEDEC)所制定的測試方法，主要是用來進行半導(dǎo)體封裝的可靠度測試，可測試封裝體老化的程度以及水氣入侵的速度。主要的測試條件有兩個110℃ -85% RH和130℃-85% RH。在S.I.Chan的研究中，他們分析高功率LED芯片在經(jīng)過HAST和一般環(huán)境(25℃-50%RH)測試后，芯片特性劣化的機制是否相同。在一般的測試條件下經(jīng)過2900小時的測試后，LED芯片會出現(xiàn)光通量衰減、光譜特性改變、封裝材料變色和氣泡產(chǎn)生以及熱阻上升等現(xiàn)象。而在HAST的測試中可觀察得到更為顯著的現(xiàn)象，且無其他異常現(xiàn)象發(fā)生，這表示了HAST確實有加速劣化機制的效果。

    在圖3中，可以看到LED芯片的光通量在HAST測試中，下降的速度比一般情況下要來的快。但只靠HAST的測試是無法推測出燈具的使用壽命，還需要一個壽命推估模型。W.D. van Rriel提到利用Monte Carlos approach和hybrid approach using BBN and Markov Chain methodology這兩種方法來推估燈具系統(tǒng)的壽命，但是推估過程容易因為LED燈具系統(tǒng)若使用較多元件而變得相當(dāng)復(fù)雜。