1、環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱的效果主要取決于施加的環(huán)境應(yīng)力、電應(yīng)力水平和檢測(cè)儀表的能力。
    2、 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱主要適用于電子產(chǎn)品，也可用于電氣、機(jī)電、光電和電化學(xué)產(chǎn)品。

    3、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選以GJB 1032—1990為基礎(chǔ)，根據(jù)受篩產(chǎn)品特點(diǎn)進(jìn)行適當(dāng)?shù)募舨?。非電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選尚沒有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，其篩選應(yīng)力種類和量值只能借鑒GJB 1032—1990并結(jié)合產(chǎn)品結(jié)構(gòu)特點(diǎn)確定。對(duì)于已知脆弱、經(jīng)受不住篩選應(yīng)力的硬件，可以降低應(yīng)力或不參與篩選，不參與篩選的硬件必須在適當(dāng)?shù)奈募姓f明。

    4、環(huán)境應(yīng)力篩選可用于產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)階段。
    5、環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)在每一組裝層次上100%地進(jìn)行，以剔除低層次產(chǎn)品組裝成高層次產(chǎn)品過程中引入的缺陷和接口方面的缺陷，對(duì)備件也應(yīng)實(shí)施相應(yīng)層次的環(huán)境應(yīng)力篩選。
    6、環(huán)境應(yīng)力篩選所使用的環(huán)境條件和應(yīng)力施加程序應(yīng)著重于能發(fā)現(xiàn)引起早期故障的缺陷，而無須對(duì)使用環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行準(zhǔn)確模擬。環(huán)境應(yīng)力一般是依次施加，并且環(huán)境應(yīng)力的種類和量值在不同裝配層次上可以調(diào)整。
    7、應(yīng)制定環(huán)境應(yīng)力篩選大綱，大綱中應(yīng)確定每個(gè)產(chǎn)品的短環(huán)境應(yīng)力篩選時(shí)間、無故障工作時(shí)間，以及長(zhǎng)環(huán)境應(yīng)力篩選時(shí)間。
    8、對(duì)研發(fā)階段的環(huán)境應(yīng)力篩試驗(yàn)箱選結(jié)果應(yīng)進(jìn)一步深入分析，作為制定生產(chǎn)中環(huán)境應(yīng)力篩選大綱的基礎(chǔ)。對(duì)生產(chǎn)階段環(huán)境應(yīng)力篩選的結(jié)果及實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)和使用信息也應(yīng)定期進(jìn)行對(duì)比分析，以及時(shí)調(diào)整環(huán)境應(yīng)力篩選大綱，始終保持進(jìn)行有效的篩選。