HAST試驗(yàn)箱為何成為集成電路IC可靠性測(cè)試的佳選？
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器
來(lái)源：
litaoweb.cn
發(fā)布日期： 2020.06.22
目前，在集成電路IC領(lǐng)域，環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備主要有高低溫試驗(yàn)箱以及HAST試驗(yàn)箱。但為什么HAST試驗(yàn)箱會(huì)成為集成電路IC可靠性測(cè)試的佳選呢？這由于HAST試驗(yàn)箱結(jié)合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗(yàn)，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護(hù)物料（塑封料或絲印）或沿外保護(hù)物料與金屬導(dǎo)電層之間界面滲入，本測(cè)試用于識(shí)別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制，并且是破壞性的。
高低溫試驗(yàn)箱可分為高低溫運(yùn)行測(cè)試、高低溫貯存測(cè)試、高低溫交變測(cè)試、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試等，雖然可測(cè)試的項(xiàng)目較多，可測(cè)試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命，但只是單一的溫濕度測(cè)試不夠精確的測(cè)試產(chǎn)品在氣壓下的使用情況。而HAST高壓加速老化測(cè)試集溫度-濕度-壓力（非飽和可調(diào)）一體，多方面測(cè)試集成電路IC，評(píng)估產(chǎn)品的失效機(jī)制。
高低溫試驗(yàn)箱的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
1、極限測(cè)試溫度可達(dá)300℃，低溫-200℃，電耗低；
2、低溫長(zhǎng)期1000小時(shí)以上不結(jié)霜；
3、可編程控制，可通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)、WIFI、手機(jī)APP等監(jiān)控設(shè)備運(yùn)行情況。
HAST試驗(yàn)箱的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
1、濕度可調(diào)式溫度-濕度-壓力一體試驗(yàn)設(shè)備，測(cè)試穩(wěn)定性高；
2、可配置多個(gè)測(cè)試端口供給用戶產(chǎn)品帶電測(cè)試；
3、設(shè)備升溫時(shí)自動(dòng)預(yù)排空氣潔凈度，確保箱內(nèi)純凈度；
4、箱體采用耐高壓設(shè)計(jì)技術(shù)，確保設(shè)備、操作人員安全。
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