高低溫試驗(yàn)箱在印制電路板領(lǐng)域的應(yīng)用
作者:
salmon范
編輯:
瑞凱儀器
來源:
litaoweb.cn
發(fā)布日期: 2021.02.26
主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了儀器儀表功能電路板老化篩選的基本內(nèi)容和要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于儀器姨表行業(yè)各類單回路調(diào)節(jié)器及各類數(shù)字化儀表的功能電路板的老化篩選。
定義儀器儀表功能電路板(以下簡稱功能板)系指儀器儀表中已經(jīng)安裝有元器件或組件,能夠完成一定功能的印制電路板。
目的
使功能板在一個(gè)具有溫度變化的高低溫試驗(yàn)箱
內(nèi),經(jīng)受空氣溫度的變化,通過高溫,低溫,高低溫變化以及電功率等綜合作用,暴露功能板的缺陷,如焊接不良,元件參數(shù)不匹配,溫漂以及調(diào)試過程中造成的故障,以便以剔除,對無缺陷的功能板將起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。
檢測環(huán)境條件
檢測應(yīng)在下列環(huán)境條件下進(jìn)行:溫度:15~35℃、相對濕度:45%~75%、大氣壓力:86~106Kpa
老化前的要求電路板的老也有兩點(diǎn)要求,這兩點(diǎn)要求分別是:
1、外觀檢測:所有要老化的功能板需先進(jìn)行目測,對于有明顯缺陷的功能板,如有短路,斷路,元器件安裝錯(cuò)誤,缺件等缺陷的功能板應(yīng)予以剔除。
2、電參數(shù)檢測:所有要老化的功能板還需進(jìn)行電參數(shù)檢測,對參數(shù)不符合要求的功能板應(yīng)予以剔除。
老化設(shè)備
1.熱老化設(shè)備——高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)工作空間的任何點(diǎn)應(yīng)滿足以下要求:
1)能保持熱老化所需要的低溫。
2)能保持熱老化所需要的高溫。
3)由高溫到低溫或者由低溫到高溫的變化過程,能按照老化所需要的溫度變化速率進(jìn)行。
2.功能板的安裝與支撐
1)功能板應(yīng)以正常使用位置安裝在支架上。
2)功能板的支架的熱傳導(dǎo)應(yīng)是低的,以使功能板與支架之間實(shí)際上是隔熱的。
3)功能板的支架應(yīng)是絕緣的,以確保受試功能板與支架之間不漏電。
3.電功率老化設(shè)備
1)電功率老化設(shè)備應(yīng)保證提供老化功能板所需要的電壓和電流,并能提供可變化的輸入信號(hào),并可隨時(shí)檢測每塊功能伴。
2)電功率老化設(shè)備應(yīng)保證在老化過程中不應(yīng)老化設(shè)備的緣故而中途停機(jī)。
老化
1.熱老化條件
1)如無其他規(guī)定,溫度循環(huán)范圍應(yīng)為:0~60℃或-10~60℃,可自行選定。
2)溫度變化速率(由低溫到高溫或者由高溫到低溫的變化過程中的平 均值)1±0.5℃/min.
3)熱老化時(shí)間至少為72h。
2.老化方法
老化的方法大體老說分為七步,這七步分別是:
1)將處于環(huán)境溫度下的功能板放入處于同一溫度下的高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)。
2)功能板處于運(yùn)行狀態(tài)。
3)然后設(shè)備內(nèi)的溫度應(yīng)該以規(guī)定的速率降低到規(guī)定的溫度值。
4)當(dāng)設(shè)備內(nèi)的溫度達(dá)到穩(wěn)定以后,功能板應(yīng)暴露在低溫條件下保持2h。
5)然后設(shè)備內(nèi)的溫度應(yīng)該以規(guī)定的速率升高到規(guī)定的溫度。
6)當(dāng)設(shè)備內(nèi)的溫度達(dá)到穩(wěn)定以后,功能板應(yīng)暴露在高溫條件下保持2h。
7)然后高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度應(yīng)以規(guī)定的速率降低到室溫。
8)連續(xù)重復(fù)3至7。直到規(guī)定的老化時(shí)間,并且按規(guī)定的老化時(shí)間對功能板進(jìn)行一次測量和記錄。
9)功能板應(yīng)在設(shè)備內(nèi)的溫度達(dá)到室溫,且穩(wěn)定后才能取出箱外。
恢復(fù)功能板取出后,應(yīng)在規(guī)定的條件下放置并使之達(dá)到溫度穩(wěn)定,恢復(fù)時(shí)間至少為1h.
較后檢測在規(guī)定條件下對功能板進(jìn)行電參數(shù)檢測,不符合要求的予以剔除。
通過上面這九個(gè)步驟,一般情況下都是可以做好線路板老化的檢測的,但是有些特殊情況還是要除外的,這就得大家學(xué)會(huì)活學(xué)活用。