電子元器件高低溫帶電老化篩選工藝
作者:
salmon范
編輯:
瑞凱儀器
來(lái)源:
litaoweb.cn
發(fā)布日期: 2019.08.22
1、范圍
1.1 本工藝適應(yīng)于防爆電器產(chǎn)品中本安用鍺、 硅半導(dǎo)體二極管、三極管、集成電路、電容器、電阻器元件的老化篩選。
1.2 本工藝適用于進(jìn)廠檢驗(yàn)合格的元件進(jìn)行老化篩選。
2、引用標(biāo)準(zhǔn)
2.1 GB4032半導(dǎo)體分立器件
2.2 GB4936. 1半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范
2 3 GB4938半導(dǎo)體分立器件接收和可靠性
3、設(shè)備、儀器、工具
高低溫試驗(yàn)箱、直流穩(wěn)壓電源、萬(wàn)用表、示波器
4、高溫儲(chǔ)存
4.1目的:使具有潛在缺陷的器件(如污染、引線(xiàn)不良、氧化缺陷等)提前失效,加以清除。
4.2儲(chǔ)存溫度
a)鍺二、三極管: 85±2℃
b)硅二、三極管: 85±3℃
c)集成電路: 85±2℃
4.3儲(chǔ)存時(shí)間 24h
4.4試驗(yàn)方法
4.4.1初試
4.4.1.1標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件
a)環(huán)境溫度: 25±5℃
b)相對(duì)濕度: 45%~75%
c)大氣壓力: 86~ 106kpa
d)4.4.1.2技術(shù)要求
按器件電參數(shù)規(guī)范測(cè)試
a)二極管
VBR:擊穿電壓。
IK: 反向電流。
b) 三極管
ICBO:集電極-基極反向擊穿電流。
v(ER)CEO:集電極一發(fā)射極反向擊穿電壓。
VCE (sat): 集電極一反向飽和壓降。
IC-VCE:共射極輸出特性曲線(xiàn)。
HFE:共射極靜態(tài)電流放大系數(shù)。
C)穩(wěn)壓二極管
UZ:穩(wěn)定電壓
IZ:穩(wěn)定電流
d)電阻器:選擇篩選的電阻器測(cè)量阻值的誤差范圍不得超過(guò)±5%。
e)集成電路:選擇能預(yù)示器件早期失效的參數(shù),作為篩選參數(shù)。
注:集成電路種類(lèi)、規(guī)格繁多,差異較大,根據(jù)實(shí)際應(yīng)用情況選測(cè)主要參數(shù)。
f)電容器:電解電容量允許誤差為±20%,無(wú)極電容電容量允許誤差為±5%。
4. 4.2試驗(yàn)步驟
4. 4.2.1將初測(cè)合格的器件裝入專(zhuān)用金屬盒,放入高低溫試驗(yàn)箱,把溫度調(diào)到規(guī)定值.
4. 4.4.2溫度達(dá)到規(guī)定值時(shí)開(kāi)始計(jì)算時(shí)間,48h后取出器件,并在室溫下恢復(fù)應(yīng)不少于1h.
4.4.2.3重復(fù)
4.4..1條的測(cè)試步驟.
5、常溫靜態(tài)功率老化
5.1目的
在較長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)對(duì)器件連續(xù)施加一定的電壓力,通過(guò)電一熱應(yīng)力的綜合作用,來(lái)加速器件內(nèi)部的物理化學(xué)反映的過(guò)程。促使器件內(nèi)部各種潛在的缺陷及早暴露,以剔除早期失效的器件.
5.2試驗(yàn)要求
5.2.1二極管
5.2.1.1檢波、開(kāi)關(guān)、整流二極管的正向電功率的老化,應(yīng)取額定正向電流的1.5倍,老化時(shí)間為48h。
5.2.1.2穩(wěn)壓二極管的反向電功率老化,應(yīng)以其額定功率的2倍進(jìn)行,老化時(shí)間為48h
6、注意事項(xiàng)
6.1常溫靜態(tài)功率老化過(guò)程中,應(yīng)隨時(shí)監(jiān)測(cè)電壓、電流數(shù)值,以保證老化條件的穩(wěn)定
6.2在初測(cè)及復(fù)測(cè)時(shí),要防止因失效的半導(dǎo)體器件引起儀表過(guò)載。
6.3試驗(yàn)時(shí),如果熱源溫度失控,就可能破壞或損傷器件,因此,熱源應(yīng)裝備重復(fù)的過(guò)熱控制來(lái)限制溫度。
7、驗(yàn)收規(guī)則
7.1由質(zhì)量部接到檢驗(yàn)通知單后進(jìn)行。首先檢查元件是否為本公司的合格供方,出廠產(chǎn)品是否有合格證明等。
7.2電解電容的出廠期不得超過(guò)一年。
7.3 所有元件抽樣檢查,抽樣率5%,初測(cè)時(shí)被抽取的樣品總數(shù)經(jīng)檢測(cè)合格率低于98%的,則判定該批總體不合格。否則判定該批總體為合格品。經(jīng)電熱老化后的樣品總數(shù)檢驗(yàn)合格率低于98%的,則判定該批總體不合格,否則判定該批總體為合格品。
7.4對(duì)檢測(cè)不合格的電子元件,開(kāi)出檢驗(yàn)不合格單,及時(shí)反饋有關(guān)部門(mén)。
7. 5檢驗(yàn)記錄應(yīng)認(rèn)真填寫(xiě)。