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電子器部件及產(chǎn)品老化試驗方法

作者： salmon范編輯：瑞凱儀器來源： litaoweb.cn 發(fā)布日期： 2021.03.18

1、范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子器部件及產(chǎn)品老化試驗方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子器部件及產(chǎn)品的老化試驗。

    2、規(guī)范性引用文件
    下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
    GB/T 2423. 1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（IEC60068-2-1-2007，IDT）
    GB/T 2423. 2 -2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫（IEC 60068-2-2-2007，IDT）
    GB/T2423. 4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）
    GB/T2423.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則:振動（正弦）（IEC 60068-2-6， IDT）
    GB/T2423.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fd:寬頻帶隨機(jī)振動一般要求（IEC 68-2-34，IDT）
    3 3試驗方法
    3.1 將處于室溫的試品（各類電子器部件及產(chǎn)品），在不加包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用”狀態(tài)下，按其正常位置放入已調(diào)到規(guī)定試驗溫度的高低溫老化試驗箱內(nèi)。
    3.2使高低溫老化試驗箱溫度調(diào)整到規(guī)定的試驗溫度下，并使試品溫度達(dá)到穩(wěn)定。
    3.3試品應(yīng)均勻擺放在高低溫老化試驗箱內(nèi)，試驗持續(xù)時間應(yīng)從溫度達(dá)到穩(wěn)定時算起。
    3.4 各類電子器部件在組裝前應(yīng)做老化試驗。
    3.5老化試驗結(jié)束后的試品應(yīng)放在恢復(fù)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下保持1h以上。然后，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行外觀檢查及有關(guān)電氣、機(jī)械性能的檢測。

3.6 各類器部件及產(chǎn)品的試驗項目按表1規(guī)定進(jìn)行。

各類器部件及產(chǎn)品的試驗項目按表1