電容屏帶電雙85老化測試
作者:
salmon范
編輯:
瑞凱儀器
來源:
litaoweb.cn
發(fā)布日期: 2019.09.21
電容屏在不帶電條件下通過行業(yè)內(nèi)嚴(yán)酷的雙85可靠性測試后,為了進(jìn)一步驗(yàn)證電容屏在經(jīng)過持續(xù)通電條件下是否仍具有優(yōu)異的可靠性和穩(wěn)定性。近期,某品牌技術(shù)團(tuán)隊(duì)專門對應(yīng)用低阻透明導(dǎo)電膜生產(chǎn)的電容屏產(chǎn)品進(jìn)行了更為苛刻的
帶電壓雙85老化測試(即抗銀遷移測試)。
一、測試裝置及條件
1、測試裝置:
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱(RK-TH-408L)
2、測試條件:通電32V(85℃+85%RH);
3、測試時(shí)間:持續(xù)240H
4、測試標(biāo)準(zhǔn):環(huán)測前/后的數(shù)據(jù)對比差異值小
二、測試內(nèi)容
1、測試產(chǎn)品:某品牌65寸TP
2、測試數(shù)量:1片
3、物料情況:
三、測試結(jié)果
1、某品牌電容屏測試前后的基本性能
2、電容屏測試后的基本性能:經(jīng)帶電壓(32V)85℃/85%RH.測試后,某品牌電容屏依然保持原有的性能特性,對比測試前后的充電電壓數(shù)據(jù)及充電時(shí)間數(shù)據(jù)均在要求范圍內(nèi),證明透明導(dǎo)電膜無機(jī)材料制成的TP可以通過帶電壓雙85環(huán)測,不會出現(xiàn)納米銀線導(dǎo)電膜常有的銀遷移現(xiàn)像,性能穩(wěn)定可靠。
本次帶電壓雙85測試結(jié)果再次充分表明,應(yīng)用某品牌技術(shù)制成的49寸、55寸、65寸、75寸、86寸電容屏產(chǎn)品,相比納米銀線、金屬網(wǎng)格等產(chǎn)品更具有穩(wěn)定性和可靠性優(yōu)勢,不存在銀遷移隱患,可以放心應(yīng)用于商用顯示及智能家居等領(lǐng)域。