高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試，是環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)?；旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行?！?/div>
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軍用設(shè)備一般按照GJB150-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》規(guī)定的方法開展科研、生產(chǎn)和交收等各階段的環(huán)境試驗(yàn)，其中濕熱試驗(yàn)…
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本測(cè)試方法主要用于耐濕性評(píng)估和強(qiáng)健性測(cè)試。樣品放置于一個(gè)高壓、高濕環(huán)境下，在壓力下濕氣進(jìn)入封裝，使弱點(diǎn)暴露，如分層、金屬…
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目前，在集成電路IC領(lǐng)域，環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備主要有高低溫試驗(yàn)箱以及HAST試驗(yàn)箱。但為什么HAST試驗(yàn)箱會(huì)成為集成電路I…
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溫度循環(huán)試驗(yàn)主要是利用不同材料熱膨脹系數(shù)的差異，加強(qiáng)其因溫度快速變化所產(chǎn)生的熱應(yīng)力對(duì)試件所造成的劣化影響。當(dāng)電子組件經(jīng)受…
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試驗(yàn)裝置與設(shè)備試驗(yàn)設(shè)備包括恒溫恒濕試驗(yàn)箱、LED光源光色測(cè)試系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)電源、結(jié)溫測(cè)試儀和三維體式顯微鏡，如圖3所示。恒溫…
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